Sigmadyne SigFit(光机热耦合分析工具)v2020R1e免费版

SigmadyneSigFit是一款光机热耦合分析工具，可以自适应控制模拟，使用蒙特卡罗方法进行变化分析，计算动态响应波前误差以及光学分析软件连接和视距误差。可广泛应用于空间相机、红外光学镜头等。激光引信等领域。

Sigmadyne SigFit是一款光机热耦合分析工具，可以自适应控制模拟，使用蒙特卡罗方法进行变化分析，并计算动态响应波前误差（连接光学分析软件）和视距误差。可广泛应用于空间相机、红外光学镜头、激光引信等领域。

特征

1. 基本功能

利用热分析和力学分析的温度、应力和变形，通过Zernike多项式拟合或点阵插值，为光学分析软件提供光学表面的变形信息以及温度和应力引起的折射率变化信息，从而实现热分析分析。机械和光学耦合分析。

多项式拟合：将多种输入格式的数据拟合到多项式。多项式类型包括标准和边际Zernike 多项式、非球面多项式、X-Y 多项式和九种其他格式。拟合结果包括多项式系数、光学工具输入宏文件、拟合的RMS和PV值等。

表面变形插值：将光学测试的实验数据或有限元模拟的网格数据插值到阵列或另一个网格结果中，以将模拟预测结果与光学测试结果进行比较或描述无法准确描述的泽尼克多项式光学表面变形

2. 高级应用

主动控制：分析光学面形状的RMS值与激发源数量的关系，分析如何布置激发源使光学面的RMS值更小，为光学面形状的RMS值的位置和尺寸提供参考。应用激励源。

动态响应：根据固有频率结果、激振载荷和阻尼等，计算简谐振动、随机振动引起的刚体位移、曲率变化和均方根误差、传递函数变化以及各阶模态对均方根的影响和瞬态负载。影响等

设计优化（仅限MSC Nastran）：将光学表面的Zernike系数、表面形状RMS值、PV值等参数转换为Nastran格式方程，并使用Nastran的优化求解器分析光学表面的表面形状、支撑结构、材料参数等优化。

光程差分析：根据有限元分析的镜面应力和温度结果，通过流体软件计算镜面附近流体的密度，以及这些参数对折射率、平均光程等光学特性的影响计算差值和双折射。